電子電器的冷熱沖擊試驗(yàn)是所有與溫度相關(guān)的測(cè)試中較嚴(yán)格的測(cè)試類(lèi)型，因?yàn)樗婕拜^高的溫度變化率。 那么，電子設(shè)備的冷熱沖擊測(cè)試應(yīng)注意什么？
通常，變化率為30℃/ min以上。 在運(yùn)輸或裝載/卸載過(guò)程中需要從溫暖的地方運(yùn)輸?shù)胶涞牡胤降牧慵⑿枰M(jìn)行此測(cè)試以模擬其實(shí)際生活狀況。 通常將測(cè)試樣品放在低溫箱中的冷熱沖擊箱中，并在返回室溫之前的短時(shí)間內(nèi)移至很高的溫度，并在數(shù)個(gè)循環(huán)后重復(fù)進(jìn)行。
系統(tǒng)測(cè)試有兩種類(lèi)型，即空氣對(duì)空氣或液體對(duì)液體。 空氣對(duì)空氣的冷熱沖擊測(cè)試使用很高的溫度變化率。 在兩盒冷熱沖擊箱中，一個(gè)房間保持高溫，另一房間保持低溫。 使用托架在幾秒鐘內(nèi)在兩個(gè)腔室之間移動(dòng)被測(cè)部件。 通常使用全封閉的冷熱沖擊試驗(yàn)箱，以避免意外暴露于環(huán)境溫度和人員操作的危險(xiǎn)。 在液-液系統(tǒng)中，使用雙缸系統(tǒng)和機(jī)械化的籃式裝置在低溫和高溫室之間移動(dòng)被測(cè)零件。 當(dāng)需要較高熱能的較高熱傳遞率時(shí)，可使用該系統(tǒng)的冷熱沖擊箱。 冷熱沖擊周期的數(shù)量可以在1到250之間變化，其設(shè)置取決于設(shè)備的類(lèi)型及其應(yīng)用。 可以嘗試對(duì)產(chǎn)品的壽命和用法進(jìn)行一些類(lèi)比。 在后面一個(gè)循環(huán)之后，應(yīng)使用10X至20X放大鏡對(duì)外殼，導(dǎo)線(xiàn)和密封進(jìn)行外部外觀檢查。 標(biāo)記也應(yīng)至少用3倍放大鏡檢查。 壓力測(cè)試后，難以辨認(rèn)的標(biāo)記或任一損壞情況，電線(xiàn)或密封的證據(jù)均應(yīng)視為失效。
除了與冷熱沖擊測(cè)試箱進(jìn)行的相關(guān)測(cè)試外，還必須按照組件規(guī)格對(duì)樣品進(jìn)行電氣測(cè)試，以檢測(cè)由測(cè)試引起的電氣故障。 電子行業(yè)中由冷熱沖擊加速的故障機(jī)制包括芯片破裂，封裝破裂，斷線(xiàn)和引線(xiàn)鍵合。 控制溫度循環(huán)測(cè)試的兩個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)是Mil-Std-883方法1011和JEDEC JESD22-A106。 軍事標(biāo)準(zhǔn)883方法1011。
本文由電子電器的冷熱沖擊試驗(yàn)廠(chǎng)家艾斯瑞儀器提供。
